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《电子测试》杂志
  • 主管单位:北京市科学技术研究院
  • 主办单位:北京自动测试技术研究所
  • 国际刊号:1000-8519
  • 国内刊号:11-3927/TN
  • 出版地方:北京
  • 邮发代号:82-870
  • 发行周期:半月刊
  • 期刊级别:省级期刊
  • 期刊收录:万方收录(中),国家图书馆馆藏,上海图书馆馆藏,维普收录(中),知网收录(中)
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杂志详情

《电子测试》(CN:11-3927/TN)是一本有较高学术价值的大型半月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。

《电子测试》如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注,而为他们搭建沟通行业信息的平台,开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的核心使命。

杂志栏目
设计与研发、虚拟仪器技术、微处理器与编程器件的应用、新品评测特集、测试工具与解决方案、新软件、新硬件、产品咨询与行业新闻
杂志收录/荣誉
万方收录(中),国家图书馆馆藏,上海图书馆馆藏,维普收录(中),知网收录(中) 万方收录(中),国家图书馆馆藏,上海图书馆馆藏,维普收录(中),知网收录(中)
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3.作者单位应写可以对外公开的全称,并加邮政编码;若几位作者的单位或地址不同,应在作者姓名后用上标注明。

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5.论文应为作者原创,不得抄袭、拼凑他人研究成果;不涉及保密问题;不得一稿多投;文责自负。

万方收录(中),国家图书馆馆藏,上海图书馆馆藏,维普收录(中),知网收录(中)